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在膜厚测定中的能谱表示:由多频分析器可快速处理能谱分析。可执行测定物的能谱分析表示,牛津膜厚仪,操作简单,资料处理的速度快。
充实测量报告的作成机能:采用WINDOW软件,测定画的撷取,非常简便,可充衬测量报告的制作机能。
测定物膜厚附著分布表示:以三次元图案来表示测定物膜厚附著状态的分布,作判定时一目了然。。。。
膜厚仪的正确校正及测量说明
1、打开膜厚仪探头盖。
2、膜厚仪的校正 ①取出校正片.将膜厚仪四角平行放在校正片上,拿起膜厚仪按左功能健至CAI,按OK,再在校准正片上连续平行测试5次后按OK健归零。 ②将二次校片放在校正片上连续平行测试5次后按OK键归零。 ③按功能键到O键,扫OK,再在校正片上连续测试5次后按OK键归零,再按OK键,加入二次校正片用膜厚仪测试5次.按OK键归零。 ④每周校。
3、膜厚仪的测量 ①取出被测物品及探头。 ②将被测物品平放于桌面,将探头和四角与被测物品进行直接平面接触,点击测量键读取数值。 ③依②的操作方法对被测物品的主次面进行平均三点测量。 ④将单面三点的数值进行换算,得出单面的平均膜厚值[ā=(a1+a2+a3)/3]。 ⑤将以上测量数值填入《出货检验报告》及《膜厚测试巡检报告》
4、膜厚仪设备停止。